返回主站|会员中心|保存桌面|手机浏览
普通会员

沧州恒熙电子有限责任公司.

晶振外壳、电源模块外壳、金属封装外壳、精密机械加工、精密零部件定制

产品分类
  • 暂无分类
站内搜索
 
友情链接
  • 暂无链接
首页 > 供应产品 > 河南晶振外壳-恒熙电子公司订做规格60x60X13
河南晶振外壳-恒熙电子公司订做规格60x60X13
点击图片查看原图
产品: 浏览次数:2河南晶振外壳-恒熙电子公司订做规格60x60X13 
单价: 面议
最小起订量:
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-08-15 15:48
  询价
详细信息
 晶体振荡器是指从一块石英晶体上按确定方位角切下薄片(简称为晶片),石英晶体谐振器,简称为石英晶体或晶体、晶振;而在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件称为晶体振荡器。其产品一般用金属晶振外壳封装,也有用玻璃壳、陶瓷或塑料封装的。现有晶振的外壳与基座装配后,由于配合结构所限,导致两者装配稳定性差,紧密性差,导致密封性能降低,从而影响产品的应用。晶体振荡器又称有源晶振,另一种称为晶体谐振器(无源晶振),两者统称为晶振。在晶体振荡器的采购中,有源晶体振荡器和无源晶体振荡器的采购要求有所不同,现在我们就来说说选购晶体振荡器的注意事项。
晶振外壳对晶振的性能影响力有多大以及组成简述
<一>、晶振外壳对晶振的性能影响力有多大
晶振外壳对晶振的性能影响力有多大?晶体振荡器被广泛用于各种模拟和数字电路中作为基准时钟源,其质量的好坏直接影响到电路工作状况,而晶振外壳(也称晶振帽)冲压品质是影响晶振性能的主要因素之一。
晶振外壳采用冲床连续冲压成型,经大量观察和分析发现,主要缺陷有内底面与顶面的凹坑、内底面与顶面的划痕,侧面裂口和侧面挠曲。之前的研究者针对前3种缺陷,应用计算机视觉检测技术设备了晶振外壳缺陷检测系统。侧面挠曲严重同样可以影响晶振的质量,是指外壳主要侧面不平行。理论上这种侧面的挠曲缺陷使得本来与光源平行的内侧面发生小角度倾斜,其在图像上的突出表现是晶振外壳凸缘内侧边缘变粗和不平行。
晶振外壳的表面质量对晶振的性能有较大的影响。针对工业现场中晶振外壳挠曲缺陷的特点,我们可以检测晶振外壳内侧边缘间的距离,如果某连续的一段检测值超出合格范围,就判定该零件不符合要求,即存在挠曲缺陷。
<二>、晶振外壳检测系统的组成简述
晶振外壳缺陷检测系统的总体设计主要由机械装置、控制系统、光源和照明装置、图像采集设备和工控机以及软件系统5大部分组成。
1)机械装置是整个检测系统的基础,功能是从晶振外壳的生产流水线引导产品不断顺着引导机构往下传送,采样时拾取晶振外壳样品,辅助控制元件和执行元件完成采样和检测动作,停止采样时回收晶振外壳;同时负责调节摄像头和光源,使系统采集到质量较好的图像。
2)控制部分检测系统的控制机构主要包括气动执行元件、位置开关、控制器和警报装置。负责完成系统的整体控制和接收系统的检测结果。同时监测系统当前状态,软件通过当前状态来决定采集设备是否拍照,并控制系统执行机构的动作。
3)光源和照明装置在一个视觉检测系统中,照明光源是重要的组成部分,照明光源的光强、光照的稳定性、光的颜色以及光照的均匀性都将直接影响着图像的成像质量、预处理和后期处理、分析。
4)图像采集设备主要负责采集晶振外壳的图像,是与晶振外壳直接接触的部分。检测系统获得的原始图像是在模拟工业现场条件下通过摄像机拍摄的RGB图像,图像的采集受到光源和背景的影响。实验室环境下的视觉检测系统是开放式的,外界环境光对成像有较大的影响,而较终运用于工业现场的系统将是全封闭的。因此在实验条件下要对光源进行控制,通过设计比较获得理想的照明方式,而背景采用低反射率的涂层覆盖,模拟工业现场条件,减少实验条件下光源和背景对成像的影响。
5)工控机以及软件系统系统的软件功能是对集的图像进行处理,计算相关特征值,以此来检测内底面和顶面缺陷。软件按模块化思想进行设计,对于图像采集模块和图像处理模块这两个功能模块,采用动态链接库,以便于被其他应用程序调用。
沧州恒熙电子有限责任公司http://www.hengxidianzi.com)主营多种不同型号的晶振外壳电源外壳金属封装外壳,配备镀金、镀镍、镀锡、电泳漆、阳极氧化等表面处理加工车间、全部实现本厂自主生产加工能、缩短交期等问题。产品远销北京、上海、广州、深圳、西安、等地。
原文链接:http://www.lingmov.com/chanpin/show-88916.html,转载和复制请保留此链接。
以上就是关于河南晶振外壳-恒熙电子公司订做规格60x60X13全部的内容,关注我们,带您了解更多相关内容。
询价单
0条  相关评论